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SEMICON & OPTO半導體設備

半導體設備

自動光學檢測儀

Pemtron ATHENA 3D AOI

ATHENA

  1. 先進的高速度檢(jiǎn)測(cè)和測(cè)量技術

  2. 高元件檢測技術

  3. 無陰影3D技術

  4. 光學字體核對

  5. 3D焊錫高度測量

  6. 3D引腳檢測

  7. 2D RGB算法

Jin Bun自動光學檢測

E-3000

  1. 客制化 :滿足客戶個(gè)别需求 ,量身訂(dìng)做特殊功能

  2. 高解析度:可判别微少不良

  3. 共用性高:搭載變(biàn)倍鏡頭,更換晶片規格隻需調(diào)整倍率,不需更換鏡頭

  4. 圖像存儲 :可存儲存各站正、反面NG及OK最近檢測(cè)各200筆(bǐ)圖像

  5. 圖(tú)像顯示:運行可即時(shí)顯示各站良品或不良品圖(tú)像

  6. 自訂(dìng)分類:可自由設定不良名稱(chēng)及吹氣分類,方便管理。

  7. SSD硬碟:利用先進電(diàn)腦硬體,快速開機(jī),減少等待時間

  8. 人性介面:容易操作使用。

  9. 高定位精度:採(cǎi)用超高解析度ENCODER,不誤判混料,不洗盤(pán)

  10. 生産(chǎn)統計(jì)顯示:可即時顯示各站各項不良統計(jì)值。